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半导体退火工艺是芯片制造中的关键环节,主要通过高温处理修复晶格损伤、激活杂质,提升器件性能。以下是主流工艺类型及特点:
一、核心工艺类型
炉管退火
原理:硅片在炉管中缓慢加热至高温(如950℃),通过恒定速率冷却修复晶格缺陷。
优势:成本适中,均匀性好,适用于大规模生产。
应用:晶圆厂中最常见,用于离子注入后的杂质激活。
快速热退火(RTP)
原理:在几秒到几十秒内将硅片加热至400~1300℃,通过高温修复晶格损伤并激活杂质。
优势:热预算少,杂质运动小,加工时间短。
应用:适用于硅、锗、砷化镓等多种半导体材料的加工处理。
激光退火
原理:利用激光提供局部高温,用于处理对温度极为敏感的材料或结构。
优势:空间选择性强,处理周期短,灵活性高。
应用:适用于SiC减薄晶圆的退火处理,有效解决传统高温热退火工艺中的问题。
气氛退火
原理:在特定气氛(如氮气、氢气或惰性气体)下进行,防止氧化或其它化学反应。
优势:可控制气氛环境,避免材料氧化。
应用:适用于对气氛敏感的半导体材料加工。
二、工艺选择依据
离子注入后激活:RTP和激光退火是主流选择,RTP适用于硅基材料,激光退火适用于对温度敏感的材料。
氧化层退火:炉管退火和气氛退火可改善氧化层质量。
应力缓解:气氛退火可缓解多层金属互连过程中的应力。
三、技术趋势
激光退火:具备向其他制造环节横向拓展的潜力,是当前半导体高端制程热处理的主流工艺路线之一。
毫秒级退火:器件缩小至40nm技术节点以下时,需采用毫秒级加热实现杂质激活。


